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2012年3月26日，測試應用中心引進國內首臺最高可測試2500伏IGBT、MOSFET、二極管、功率三極管等動態參數的尖端測試設備—ITC57300動態參數測試儀，進一步完善了測試應用中心實驗室的測試能力。該設備由美國ITC公司設計生產，是一款高集成度功率半導體分立器件動態參數測試儀，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構，最高測試電流可以達到400A，實現不同類型、同類型不同封裝、同類型同封裝不同參數的高精度全自動測試，是目前最具領先水平的完備可靠的動態參數測試設備，其測試標準符合美軍標MIL-STD-750E，可以滿足N溝道、P溝道器件、以及雙極型晶體管的各項動態參數的測試要求，且具有波形分析功能。